ESDコントロール部会
HOME > 技術委員会 開催案内 > ESDコントロール部会

次回開催案内

第50回  2016年4月1日(金)

開催場所:東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル6F IDEMA JAPAN 会議室 地図

IDEMA会員各位
2016年3月9日

ESDコントロール部会
部会長:宮竹政実(HGSTジャパン)
副部会長:仲島智秀(東芝S&S社)
副部会長:山口晋一(シシド静電気)

平素はIDEMA JAPAN ESDコントロール部会の活動にご協力頂きありがとうございます。

2016年第1回目のESDコントロール部会を下記のように開催致します。
部会報告では、本年度の計画と昨年行いましたアンケート結果について報告致します。
ワークショップでは、オルガノ株式会社様より「機能水を用いた洗浄技術」の紹介、
山形大学大学院より「新規の電界駆動型(EFD)イオナイザー」の紹介、
データデータ復旧部会より「データ復旧サービスと復旧技術について」の講演を予定しております。
大変お忙しいこととは存じますが、会員皆様のご参集を賜りたく宜しくお願い致します。

準備の都合上、ご出席の方は【3月25日(金)】までに
IDEMA事務局(三浦 miura@idema.gr.jp)までご連絡願います。

尚、定員に達した時点で申し込みを締め切らせて頂きますので、予めご了承願います。

【議題】

1.部会報告 14:30〜14:50

(1)ESDコントロール部会の今後の活動について
(2)アンケート結果報告
(3)その他

休憩  14:50〜15:00

2.ワークショップ 15:10〜17:00

(1)「帯電防止リンス水製造装置について報告」

電子部品洗浄用機能水装置を展開している。
機能水の種類・水質・用途を製造装置の概要と併せて説明。
ESD対策ではリンス水として使用されている炭酸水、
アンモニア水での帯電防止効果を3Dマッピングデータで紹介する。

  オルガノ株式会社 開発センター新領域G兼エンジニアリング本部 技術部 
      エレクトロニクスビジネスユニット 山下 幸福 様

(2)「電界駆動型(EFD)イオナイザーの紹介」

気流で正負のイオンを対象物に供給するタイプ(気流駆動型)ではなく、
帯電した対象物が形成する電界を利用してイオンを駆動するタイプの
コロナ放電式イオナイザーについて紹介する。

  山形大学大学院 理工学研究科 電気電子工学専攻 准教授 杉本 俊之 様

(3)データデータ復旧部会より講演

「データ復旧サービスと復旧技術について」

「データ復旧サービスについて」
    部会活動報告 部会長 AOSリーガルテック株式会社 取締役 春山洋 様

「データ復旧技術 論理障害編」
    副部会長/株式会社 アドバンスドテクノロジー 代表取締役 金田龍介 様

「データ復旧技術 物理障害編」
    株式会社 LIVEDATA 代表取締役 堤充史 様

3.簡単な懇親会 IDEMA JAPAN 6F会議室(17:00〜)

以上


これまでの部会

第49回  2015年11月6日(金) 14:00〜 コンタミ部会と合同開催
開催場所:東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル1F会議室


第48回  2015年7月31日(金) 14:30 〜16:50
開催場所:東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル6F IDEMA JAPAN 会議室

【議題】

1.部会報告 14:30〜14:50
(1)ESDコントロール部会の今後の活動について
(2)アンケート結果報告
(3)その他
休憩  14:50〜15:10
2.ワークショップ 15:10〜16:50
(1)「磁気ヘッド耐圧評価方法の紹介」
    株式会社 東芝 S&S社 仲島智秀 様
(2)「3Dノイズ測定手法について/2Dリアルタイム測定手法について」【デモンストレーションを実施!】
   株式会社 バイテック 電子機器ビジネスGP 竹仲渉 様
3.簡単な懇親会 IDEMA JAPAN 6F会議室(16:50〜)


第47回  2015年4月3日(金)13:30〜17:10   ヘッド・ディスク部会と合同開催です
開催場所:ワタルビル1F会議室 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル1F

【議題】

1.部会報告 13:30〜13:40
2.ワークショップ 13:40〜17:10
(1)「高周波、Z方向振動と磁気ヘッド位置のHDDパフォーマンスへの影響」13:40〜14:20
株式会社富士通研究所 システムプラットフォーム研究部 近藤玲子 様
(2)「最近の磁気ヘッド技術」14:20〜15:10
TDK株式会社 ヘッドビジネスグループ 技術支援グループリーダー 照沼幸一 様
休憩  15:10〜15:30
(3)「プロセスのばらつきと信頼性」15:30〜16:10
職業能力開発総合大学校 准教授 横川慎二 様
(4)「放電検出と電流プローブ特性」+デモンストレーション16:10〜17:10
プローブテック 早田裕 様
3.簡単な懇親会 IDEMA JAPAN 6F会議室(17:10〜)


第46回  2014年11月19日(水) 13:30〜 コンタミ部会と合同開催
開催場所:IDEMA JAPAN 会議室(6F) 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル


第45回  2014年8月8日(金) 14:30〜
開催場所:IDEMA JAPAN 会議室(6F)   東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル

議題

1.部会(14:30-14:50)
(1)2014年 ESDコントロール部会の活動について
(2)その他
2.ワークショップ(15:00-17:00)
2.1 「光電界センサ/光電圧プローブのESD計測の可能性」
    株式会社精工技研 事業本部 市場開拓部 大沢隆二 様 15:00〜15:40
2.2 「クリーンルーム用イオナイザーの電極材料と磨耗防止について」
    株式会社テクノ菱和 技術開発研究所 鈴木政典 様 15:40〜16:20
2.3 「RF interference signal Invasion into Front-End of HDD 」
    株式会社HGSTジャパン ヘッドメディアインテグレーション統括部 主任技師 西山延昌 様 16:20〜17:00
3.簡単な懇親会(17:00-18:00)


第44回  2014年4月11日(金) 14:30〜
開催場所:ワタルビル1F会議室 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル

議題

1.部会(14:30-14:50)
(1)2014年 ESDコントロール部会の活動について
(2)その他
2.ワークショップ(15:00-17:00)
(1)「狭ギャップESD事象とその試験装置についてのご紹介」【デモンストレーションを実施!】
東京電子交易株式会社 磯福 佐東至 様
インパルス物理研究所 本田 昌實 様
(2)「システムレベルにおけるESDストレスのシミュレーション手法の検討」
東京理科大学 吉田 孝博 様  
3.簡単な懇親会(17:00-18:00) IDEMA JAPAN 会議室(6F)


第43回  2013年11月8日(金) 13:30〜 
コンタミ部会と合同開催です ご案内はこちらから 
開催場所:IDEMA JAPAN 会議室(6F)   東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル


第42回  2013年8月23日(金) 14:30〜
開催場所:ワタルビル1F会議室 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル

議題

1.部会(14:30-14:50)
 (1)ESDコントロール部会の今後の活動について
 (2)前回41回部会ワークショップの質疑回答
 (3)その他
2.ワークショップ(15:00-17:00) 
 (1)「静電気放電発生箇所可視化技術の開発」 ESD可視化装置のデモンストレーション実施!!
    鹿児島県工業技術センター 生産技術部 研究専門員 尾前 宏 様
 (2)「真空成形ケース・トレーの評価方法」
    真空成形ケース・トレーに求められるもの、ESD関係、コンタミ関係の評価内容
    株式会社 東芝  セミコンダクター&ストレージ社  ストレージプロダクツ設計生産統括部 主務 仲島 智秀 様
3.簡単な懇親会(17:00-18:00)


第41回  2013年4月12日(金) 14:00〜
開催場所:IDEMA JAPAN 会議室(6F) 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル

議題:

1.部会(14:00-14:50)
  (1)挨拶と今後の方針について
 (2)2013年 ESDコントロール部会の活動について
 (3)その他
2.ワークショップ(15:00-17:00)
 (1)「HDDのEMCについて」
  株式会社 日立製作所 横浜研究所 研究員 中村 聡 様 (HGSTジャパン出向中)
 (2)「Head/HDDのESDについて」
  株式会社 HGSTジャパン FI 主任技師 宮竹 政実 様
3.簡単な懇親会(17:00-18:00)


第40回  2012年9月26日(水)14:00-17:00
開催場所:IDEMA JAPAN 会議室(6F) 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル

内 容:2012年度の静電気業界動向と今後の展望

(敬称略)
14:00-14:50 「2012静電気関連動向や企業連携について」
鈴鹿工業高等専門学校 電気電子工学科教授 大津孝佳
15:00-15:20 「米国ESDシンポジウムのトピックスと最新情報」
トレックジャパン(株) 山口晋一
15:30-15:45 「RCJ静電気(ESD/EOS/EMC)シンポジウムのトピックス」
日本電子部品信頼性センタ(シンポジウム) 塩野 登
日本電子部品信頼性センタ (展示) 山口 晋一
15:45-16:15 「ヘッドディスク間の表面電位が浮上量に及ぼす影響」 
(株)HGST JAPAN  津波古和司
16:15-17:00 「今後の取組みなど」
部会員全員でテーブルラウンドディスカッション
17:00-17:30  簡単な懇親会


第39回  2011年8月26日(金)9:00-17:30
開催場所:中部電力東桜会館(名古屋) 地図

【次世代電子デバイスの静電気対策シンポジウム2011開催案内】

部会長:大津孝佳(鈴鹿高専)
副部会長:山口晋一(TREK JAPAN)
副部会長:仲島智秀(東芝S&S社)

IDEMA 技術委員会並びにESDコントロール部会会員の皆様

いつもESDコントロール活動にご協力頂きありがとうございます。
この度、IDEMA JAPAN ESDコントロール部会とNPO法人ESD協会との共催により、
『次世代電子デバイスの静電気対策シンポジウム2011』を開催致します。

電子デバイスの小型化・高速化が進む一方、静電気耐力の低下が懸念されています。
半導体、HDD用磁気ヘッド、MEMSと言った電子部品、それらの製造及び基板実装、
電気自動車、医療・介護等の高信頼性機器、スマートグリッドに伴う雷放電等からの
保護等、幅広い分野からの要求がなされています。特に破壊や誤動作に伴う生命や情報
の安心・安全と言った観点からもその対策は急務です。
この取り組みとして、国内ではIDEMA JAPAN ESDコントロール部会、NPO法人ESD協会、
日本電子部品センター、電気学会、静電気学会、電子情報通信学会、
世界では、ESD Association、IEEE等、静電気放電現象及び静電気放電に伴う電磁波等の
研究が進められています。
本シンポジウムは、次世代の電子デバイスの静電気対策技術に関し、研究機関での静電気
対策基礎及び、静電気対策機器メーカでの静電気対策、HDD等電子機器メーカでの静電気
対策について報告及び議論を行うものです。

共 催   IDEMA JAPAN(日本HDD協会) ESDコントロール部会
       NPO法人ESD協会
開催助成  公益財団法人中部電気利用基礎研究振興財団
後 援   財団法人三重県産業支援センター、財団法人三重県文化振興事業団三重県生涯学習センター
       鈴鹿市産業支援課、鈴鹿市商工会議所、SUZUKA産学官交流会
協 賛   中部パワーアカデミー、中部エレクトロニクス振興会、社団法人電気学会東海支部
       静電気学会、鈴鹿工業高等専門学校、鳥羽商船高等専門学校
       鈴鹿工業高等専門学校共同研究推進センター
協 力   財団法人日本電子部品信頼性センター

シンポジウムプログラム

受付開始 9:00
開会式 (9:20-9:30)
Session 1 ハードディスクと静電気 (9:30-10:30)
講演1-1 「電子デバイス/HDDのESD現象と対策」    大津孝佳(鈴鹿工業高等専門学校)  
講演1-2 「半導体/液晶/HDDの静電気問題」       藤江明雄(ESDコンサルタント)  
講演1-3 「HDD製造工程での静電気対策」          仲島智秀(鞄月ナ セミコンダクター&ストレージ社)
Session 2 半導体と静電気 (10:35-11:35)
講演2-1 「半導体デバイスの静電気対策」          鈴木輝夫(富士通セミコンダクター )
講演2-2 「半導体におけるLatch-up/誤動作対策」    石塚裕康(ルネサスエレクトロニクス )
講演2-3 「車載半導体のESDイミュニティ評価」      富永 保(カルソニックカンセイ梶j
Session 3 システムと静電気 (11:40-12:20)
講演3-1 「誘導ESDが電子機器に及ぼす影響」
       本田昌實(潟Cンパルス物理研究所)、磯福 佐東至(東京電子交易梶j
講演3-2 「機器内部のICがシステムレベルESDで受けるストレスの測定と考察」 
       磯福 佐東至(東京電子交易梶j、石塚 裕康(ルネサスエレクトロニクス梶j渡邊 喜史(ソニー梶j
       本田 昌實(潟Cンパルス物理研究所)、今井 士郎(セイコーエプソン梶j、戸澤 幸大(潟mイズ研究所)
Session 4 電子機器の静電気対策技術 (13:20-14:20)
講演4-1 「静電気測定 (電位・電荷量・放電・表面抵抗)」  山口晋一(トレック・ジャパン梶j
講演4-2 「イオナイザの基本特性と表面処理技術の応用」  鈴木輝夫(春日電機梶j
講演4-3 「樹脂系静電気対策材料」                矢倉秀紀(潟Nレファイン)
Session 5 静電気と電磁波 (14:25-15:15)
講演5-1 「放電に伴う過渡電圧電流変動と放射電磁波強度」 川又 憲(八戸工大)
講演5-2 特別講演「静電気放電と電磁環境」           藤原 修(名古屋工大)
Session 6 静電気対策と産学官連携 (15:20-16:00)
講演6-1 「宇宙環境と宇宙不具合」                  松本晴久(宇宙航空研究開発機構)
講演6-2 「静電気対策を意識した鈴鹿市産学官の取り組み」  岡本隆典(鈴鹿市産業政策課)
Session 7 静電気研究学生LT発表会 (16:05-17:05)
発表7-1 「間接放電によるプラズマボールの点灯特性」
      若林修作 、関 大介、中西俊介、大西育佳(鈴鹿高専電気電子工学科4年)
発表7-2 「電源ケーブルの静電気対策による電圧変動の低減」    林田健太郎(鈴鹿高専電気電子工学科5年)
発表7-3 「各種放電源からのESDの放電特性の比較」          小村淳己(東京理科大工学研究科電気工学専攻)
発表7-4 「各種イオン発生器からのイオン発生量と減衰特性」    今井省吾(鈴鹿高専専攻科電子機械工学専攻)
発表7-5 「金属間ESDの電極接近速度による放電特性への影響」  林 宏賢(東京理科大工学研究科電気工学専攻)
発表7-6 「サブミクロンギャップでの放電特性と放射電磁波」     藤川啓道(鈴鹿高専専攻科電子機械工学専攻)
表彰式 ・閉会式 (17:05-17:30)
懇親会 @東桜クラブ(東桜会館5F)(17:35-20:00)

参加申込方法

参加申込は8月5日(金)までに、氏名、所属、連絡先(郵便番号、住所、電話、FAX、E-mailを含む)、
懇親会参加の有無を明記の上、開催責任者宛( ohtsu@elec.suzuka-ct.ac.jp )にE-mailの本文または
添付文書としてお申し込み下さい。
共催、後援、協賛、協力団体以外の方の参加費(資料代)は3000円です。また、懇親会は4000円/1人の予定です。
但し、シンポジウム及び懇親会とも満席になり次第募集を終了いたします。参加申し込みのメールを確認後、
受付番号を記載したメールを返信しますので、メールの 確認をお願い致します。
(1)氏 名:
(2)所 属:
(3)郵便番号:
(4)住 所:
(5)電 話:
(6)FAX :
(7)E-mail :
(8)団体名:
(9)懇親会参加の有無:
(10)その他連絡事項
申込先: ohtsu@elec.suzuka-ct.ac.jp
シンポジウム開催責任者
IDEMA JAPAN ESDコントロール部会部会長
鈴鹿工業高等専門学校電気電子工学科
大津孝佳


第38回  2011年6月10日(金)13:30-18:30

開催場所:IDEMA JAPAN 6F会議室 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル
部会・ワークショップ・懇親会: 13:30-18:30

【Session1 部会】  13:30-14:50
(1) 「ESDコントロール部会2011活動について」  大津孝佳(鈴鹿高専)
・「IMCIC2011(人工頭脳学国際会議)&APEMC2011(電磁環境国際会議」報告
・「次世代電子デバイスの静電気対策技術シンポジウム2011」8月26日@名古屋について
・ RCJ(日本電子部品信頼性センタ)静電気シンポジウムの論文募集について
(2) 「ESDアプリケーション登録と今後の展開について」  IDEMA広報委員会準備状況
(3) 「NPO法人日本ESD協会2011活動について」  山口晋一(トレック・ジャパン)
休憩  14:50-15:00
【Session2 ワークショップ】  15:00-17:00
(1) 「金属電極形状がESDの放電電流と放射電磁ノイズに及ぼす影響」
  吉田 孝博 様(東京理科大学)
(2)「二次元通信用媒体「セルフォーム」」
  大内田 真智子 様(帝人ファイバー株式会社)
(3) 「ハードディスクの中を見てみよう!」
  仲島 智秀 様(東芝ストレージデバイス株式会社)
     −−− HDD部品WG活動Part1: 内部の紹介と実験!!−−−
懇親会 17:00-


第37回  2011年2月10日(木)13:30-18:30

開催場所:IDEMA JAPAN 6F会議室 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル
部会・ワークショップ・懇親会: 13:30-18:30

【Session1 部会】 13:30-14:50
(1) 「ESDコントロール部会2011活動について」  大津孝佳(鈴鹿高専)
(2) 「ESDアプリケーション登録と今後の展開について」  IDEMA広報委員会/ESDコントロール部会
(3) 「JAPAN ESD Association(ESD協会)2011活動について」  山口晋一(トレック・ジャパン)
(4) 「HDD関連部品WGワーキンググループ活動」  HDD関連部品WG
14:50-15:00  休憩
【Session2 ワークショップ】 15:00-17:00
(1) 「磁気テープ媒体の変遷と将来展望」  荒木宏明 様(富士フイルム株式会社)
(2) 「SEMIスタンダード活動紹介」  菅野博史 様(SEMI JAPAN Standards)
16:00-16:10  休憩
(3) 「HDD業界動向2011」  堀内義章 様(HORI Technology Office)
懇親会 17:00-


第36回  2010年11月12日(金)13:30-18:30

開催場所:IDEMA JAPAN 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル
部会・ワークショップ: 13:30-17:30 1F ワタルビル会議室(IDEMA JAPAN同ビル内)
懇親会         :17:30-18:30 6F IDEMA会議室

【Session 1 部会】 13:30-14:30
(1)ESDアプリケーション登録と今後の展開について
(2)HDD関連部品WGワーキンググループ活動について
(3)DISKCON USA 技術委員会報告
(4)「米国ESDシンポジウム報告」山口晋一 様(トレック・ジャパン株式会社)
【Session 2 ワークショップ】 14:40-17:30
(1)「新製品ブロータイプイオナイザーの紹介」 小辻一雄様(株式会社 コガネイ)
(2)「接触に伴う各種デバイス間の放電現象の検討」 早田裕様、小池志郎様*(*東京電子交易株式会社)
(3)「クリーンルーム用イオナイザーのご紹介」 鈴木政典様(株式会社 テクノ菱和))
懇親会 17:30-18:30 (6F IDEMA JAPAN会議室)


第35回  2010年8月20日(金)13:00-18:00   開催場所: 1Fのワタルビル会議室

【Session 1部会】
13:00-14:00  「ESDコントロール部会エピソード2活動計画について」
鈴鹿工業高等専門学校 電気電子工学科 教授 大津 孝佳
14:00-15:00  「DISKCON JAPAN 2010報告」IDEMA JAPAN 鈴木 隆夫 様
・全体状況について              IDEMA JAPAN 鈴木 隆夫 様
・モデルクリーンルームについて      東芝ストレージデバイス株式会社 仲島 智秀 様
・ESD協会セミナーとの連携について   トレック・ジャパン株式会社 山口 晋一 様
15:00-15:20  「RCJ ESDシンポジウムについて」
財団法人 日本電子部品信頼性センター 調査研究部長 塩野 登 様
15:20-15:30  Coffee break

【Session 2 ワークショップ】
15:30-16:10  (1)「線状対面電極方式イオナイザー」
シチズン東北株式会社 盛岡事業所 精密部品部 大木戸 希 様
16:10-16:50  (2)「静電気計測新製品の紹介」
住友スリーエム株式会社 電気・電子製品事業部 林 慎太郎 様

17:00-     懇親会


第34回 2010年1月22日(金)13:00-18:00   開催場所:IDEMA JAPAN 事務所

【Session 1部会】
13:00-13:30   「ESDコントロール部会2010年活動計画」
株式会社 日立グローバルストレージテクノロジーズ 大津 孝佳
13:30-13:40   「DISCON JAPAN 2010に向けて」 IDEMA JAPAN 鈴木 隆夫 様
13:40-14:00   「2010年のNPO法人ESD協会の活動」 トレック・ジャパン株式会社 山口 晋一 様

【Session 2ワークショップ】
14:00-14:40   (1)「導電性アルミナ膜と静電気特性」 早田 裕 様
14:40-15:20   (2)「ESD対策技術の動向2010」 シシド静電気株式会社 取締役 和泉 健吉 様
15:30-16:10   (3)「白色LED市場の動向」
株式会社富士キメラ総研 第一研究開発部門 C&E研究室 AD 塩原 一平 様
16:10-16:50   (4)「HDDの2010年の展望」 HORI Technology Office 堀内 義章 様


第33回 2009年9月11日(金)  開催場所:第5東洋海事ビル 会議室B(地下1階)

13:00-14:20 【Session1 部会】
(1) 「技術委員会、E-PCOT活動状況報告」   株式会社 日立GST 大津 孝佳
(2) 「第19回RCJ EOS/ESD/EMCシンポジウム2009のご紹介」
(財)日本電子部品信頼性センター(RCJ) 調査研究部 塩野 登 様
(3) 「接触放電とデバイスの静電気破壊」 早田 裕 様

14:40-17:00 【Session2 ワークショップ】新ESDコントロール技術

(1) 「ESD対策用新規リストストラップ」
積水化成品工業(株) 第3事業本部 技術開発部 品質管理グループ 主事 西 哲也 様
(2) 「新イオナイザー」 トレック・ジャパン株式会社 営業技術部 副部長 高橋忠 様
(3) 「評価装置メーカから見たESD規格の動向とその対策」
阪和電子工業株式会社 営業部 部長代理 矢田 善久 様


第32回 2009年5月22日(金)  開催場所 : IDEMA JAPAN 事務所

13:00-14:00 【Session1 部会】

(1) 技術委員会、E-PCOT活動状況報告
株式会社 日立GST 大津孝佳

(2) 「SEMIスタンダード活動紹介」
SEMIジャパン スタンダード部 コーディネーター 中島朝美様

14:10-17:00 【Session2 ワークショップ】2009年業界動向と新ESDコントロール技術

(1) 「HDD業界動向2009」
株式会社富士キメラ総研 第一研究開発部門 C&E研究室 AD 塩原一平様

(2) 「マイクロプラズマ静電気除去器」
Afje 株式会社 営業課 石井秀典様

(3) 「RVメータによる静電気対策材料測定事例の紹介」
原田産業株式会社 アドバンスト ツールチーム 佐藤充男様

(4) 「TuMRヘッドのESD/EOS/EMIによるHard破壊痕実験の事例」
富士通株式会社 ストレージプロダクト事業本部 製造技術部 仲島智秀様


第31回 2009年2月6日(金) 13:00-18:30   開催場所 : IDEMA JAPAN 事務所

13:00-15:20 【Session1 部会】
  1.技術委員会報告

2.業界動向

(1)「HDD業界動向2009」
   HORI Technology Office 堀内義章様

(2)「SEMIスタンダードにおけるESD関係の報告」
村上俊郎様

(3)「ESD対策技術の動向2009」
シシド静電気株式会社 取締役 最高技術顧問(工学博士) 和泉健吉様
   
15:30-17:00 【Session2 ワークショップ】
  (1) 「ESD関係計測器」
村上俊郎 様

(2) 「制電材料の技術動向2009」
日本インテグリス株式会社 マイクロエンバイロメント部 香野拓哉 様

(3)「いまさら聞けないEMC 〜実は奥が深い ESD試験〜」
滋賀県工業技術総合センター 山本典央 様

第30回 2008年11月28日(金) 13:00-18:30   開催場所 : IDEMA JAPAN 事務所

13:00-14:30 【Session1 部会】
1.技術委員会報告

2.学会動向
(1)「台湾のESDコンファレンスの報告」
東京電子交易株式会社 磯福佐東至 様

14:50-17:00 【Session2 ワークショップ】
『E-PCOT活動で広がる、ESD対策の新分野、新材料、新技術』

(1) 「MWNT-7を用いた樹脂複合材料への応用」
ナノカーボンテクノロジーズ株式会社 用途開発部長 佐藤洋 様

(2)「帯電極性と放電時のインパルス極性の関係」
(株)インパルス物理研究所 本田昌實 様

(3)「HGAアンテナモデルによるEMIノイズ観測とGMR/TMR破壊現象」
富士通株式会社 ストレージプロダクト事業本部 製造技術部 仲島智秀 様

(4)「ハードディスク内部で発生する摩擦帯電のヘッド・フライングハイトへの影響」
(株)日立グローバルストレージテクノロジーズ 技術開発本部 HDIシステム開発部 津波古和司 様


第29回 2008年9月26日(金) 13:00-18:30   開催場所 : IDEMA JAPAN 事務所

13:00-15:00
【Session1 部会】
1.技術委員会報告等

2.アプリケーション提案シート見直しのお願い

1) 「Check your DREAM!」
2) 「微小帯電量測定技術」/春日電機株式会社(鈴木輝夫様)
提案No:ESD20020004、カテゴリーNo.DR2002M003
3) 「電荷輸送型局所除電」/株式会社コガネイ(大岩裕樹様)
提案No:ESD20020006、カテゴリーNo.DR2002A002
4) 「微小面積・微小電位測定技術」/トレックジャパン株式会社(山口晋一様)
提案No:ESD20020002、カテゴリーNo.DR2002M001
5) 「静電気帯電防止材料」  呉羽化学工業株式会社 西畑直光様   
提案No:ESD20020007、カテゴリーNo.DR2002A003
6) 「GMR/TMR磁気ヘッドのESD評価」 東京電子交易株式会社 磯福佐東至様 
提案No:ESD20020008、カテゴリーNo.DR2002E001
7) 「EMI測定技術」インパルス物理研究所 本田昌實様
8) 「ライト回路をコモングランドR/WIC」 株式会社日立GST   畑中紀明 様
R-01                      
9) 「波形の半値幅を変えたESDテスト法」 株式会社日立GST 名取章二 様
E-04 

15:00-17:00
【Session2 ワークショップ】
『E-PCOT活動で広がる、ESD対策の新分野、新材料、新技術』

1.「第18回RCJ EOS/ESD/EMCシンポジウムのご紹介」 
(財)日本電子部品信頼性センター 調査研究部長 塩野登様

2.「イオナイザー用低発塵のガラス放電針(NTニードル)」        
(株)東海産業 取締役社長室長  森重 明様

3.「静電気対策用セラミックスのご紹介」     

サンゴバン株式会社 セラミックス事業部 セールス&マーケティングマネージャー 岩崎 修二様


第28回 2008年6月6日(金)   開催場所 : IDEMA JAPAN 事務所

13:00-15:00
【Session1 部会】(HDD業界動向2008とESD コントロール活動)
1.『HDD業界動向2008』
株式会社富士キメラ総研  第一研究開発部門 C&E研究室 AD  塩原一平様

2.『RCJ ESDシンポジウム2008について』
日本電子部品信頼性センタ 塩野登様

3.『ESD関連技術動向についてのテーブルラウンドディスカッション』 参加者全員
-アプリケーションスタンダードの提案について
-用語集について
-各業界、学会の動向について

15:00-17:00
【Session2 ワークショップ】(ESD&クリーンルームテクノロジー技術動向)
1.『歩行者から発生する5GHz帯ESDノイズ』
NTTアドバンステクノロジー(株) 青木 治様

2.『紫外線による除電』
ウシオ電機株式会社     鈴木 信二様

3.『HDDにおける分子汚染問題とその評価技術〜アウトガス分析を中心に〜』
株式会社住化分析センター 気相解析グループ グループリーダー 野中辰夫様


2007年3月7日(金) 13:30 - 17:00   開催場所: IDEMA JAPAN事務所

■ 13:30 -14:30 部会

1. 2008年度の活動方針について
2. ストレージ用語辞典改編の進捗状況の報告

■ 14:30 - 16:45 ワークショップ

「ESD業界動向2008」 - 30分
トレック・ジャパン株式会社 営業技術部
取締役統轄部長:山口 晋一 様

「半導体製造装置における静電気問題と対策, 副題:SEMIスタンダードE-78関連の概略説明」
原田産業株式会社 エレクトロニクス事業本部
EPMエキスパートマネージャー 村上 俊郎 様

「ESD Solution with Lubrizol’s Stat-Rite technologies」- 30分
Dr. Chew Kong Chin (New Product Development Manager) Lubrizol Advanced Materials
Mr. JJ Lim (NEA Sales & Marketing Manager) Lubrizol Advanced Materials
勝山 和美 様 (Marketing Development Manager) 日本ルーブリゾール株式会社

「HDDにおけるESDコントロールの事例」- 30分
富士通株式会社 ストレージプロダクト事業本部 磁気ディスク事業部 製造技術部
主任ESDコーディネーター:仲島 智秀 様



2007年11月22日(木) 13:00 - 18:00  開催場所:発明会館 7階会議室

■ 13:00-15:00 部会

1.アプリケーションスタンダードの審議

1) R-01 R/WIC:「ライト回路をコモングランド化することによりクロストークが低減できる」
株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ
   C&Cビジネスグループ 電気部品技術・品質部 グループリーダ 畑中紀明 様

2) E-04 ESDテスト法:「波形の半値幅を変えた測定が有効である」
株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ ヘッド開発本部 ヘッド設計・CE部 技師 名取章二 様

2.ストレージ用語辞典改編について

■ 15:15-16:45 ワークショップ

「抵抗/電圧特性計測システム- R/Vメーターについて-」
原田産業株式会社 エレクトロニクス事業本部 アドバンスト ツールチーム 技術顧問 鈴木功一様

「MWNTの樹脂複合材料への応用」
三井物産株式会社 機能素材事業部 樹脂材料・新素材室
CNTプロジェクトマネージャー 工学博士:半田浩一様

「米国ESDシンポジウム/RCJ主催ESDシンポジウムの報告」
ソニー株式会社 ケミカルデバイス事業本部 テープメディア事業部
デバイス技術開発課 課長:早田裕 様


2007年8月24日(金)  開催場所: TKP新橋会議室

■ 14:00-16:00 部会

1.アプリケーションスタンダードの審議

1) 提案No:ESD20020007、カテゴリーNo.DR2002A003
「静電気帯電防止材料」  呉羽化学工業株式会社 西畑直光様

2) 提案No:ESD20020008、カテゴリーNo.DR2002E001
「GMR/TMR磁気ヘッドのESD評価」 東京電子交易株式会社 磯福佐東至様

3) 「EMI測定技術」インパルス物理研究所 本田昌實様

  2.ストレージ用語辞典改編について

■ 16:15-17:15 ワークショップ

「高分子ハイドロゲルを用いた静電気除去方法の検討」
積水化成品工業株式会社 第3事業本部 化学品事業部 主事 西哲也 様
補足発表:リストパッドの評価
発表者:富士通株式会社 仲島智秀 様

「AC型高圧トランス内蔵イオナイザー」
シシド静電気株式会社 技術部 課長 清水渡 様


2007年4月20日(金)  開催場所:発明会館 7階会議室

■ 13:00-15:00 部会

1. アプリケーションスタンダードの審議

1) 提案No:ESD20020004、カテゴリーNo.DR2002M003
「微小帯電量測定技術」/春日電機株式会社(鈴木輝夫様)
2) 提案No:ESD20020006、カテゴリーNo.DR2002A002
「電荷輸送型局所除電」/株式会社コガネイ(大岩裕樹様)
3) 提案No:ESD20020002、カテゴリーNo.DR2002M001
「微小面積・微小電位測定技術」/トレックジャパン株式会社(山口晋一様)

2. ストレージ用語辞典改編について
新しい用語の候補を議論

■ 15:30-16:45 ワークショップ

「気相法炭素繊維を用いたESD樹脂複合材料」
昭和電工株式会社 ファインカーボン部 長尾勇志様/佐藤ライト工業株式会社 エスプラスセンター 佐々木喜達

「HDD業界動向2007」
株式会社富士キメラ総研 第一研究開発部門 C&E研究室塩原一平

■ 17:00-18:00 懇親会


2007年2月2日(金)  開催場所:発明会館 7階会議室

■Session 1:2007年度ESDC部会の活動方針

14:00-15:00 ・2007年度活動計画 (山口・鈴木・大津)
・ストレージ用語辞典改編について

15:00-15:15  Coffe Break

■Session 2:ワークショップ

『RCJ主催EOS/ESD/EMCシンポジウム特集』

15:15-15:45:「固定間隔での放電における電磁干渉(EMI)能力の測定」 インパルス物理研究所 本田昌實

15:45-16:15:「GMR/TMRヘッドのEMIに関する検討」日立グローバルストレージテクノロジーズ 田辺英男

16:15-16:45:「被覆電線からGMRヘッドへの放電現象の検討(2006年度優秀論文賞)」 ソニー 早田裕


2006年7月14日(金)  開催場所:発明会館 7階会議室

14:00-14:30
Session1: IDEMA技術委員会報告 大津(日立GST)/鈴木(IMES)/山口(TREK)
-ISW報告
-Global Standards/Technologies Committee
-ESD業界カレンダー

14:30-15:00
Session2: ISWでのESD対策モデルルームの総括 山口(TREK)
クレハ/コガネイ/シシド静電気/東京電子交易/日立コンピュータ機器
トレックジャパン/原田産業/松本技研/ミドリ安全/Noveon

15:15-17:00
Session3:ワークショップ
『ISWでのESD/コンタミネーションセミナーフォローアップ』

15:15-15:45「静電気測定」トレック・ジャパン株式会社 山口 晋一
15:45-16:15「イオナイザー」原田産業株式会社 水谷 智
16:15-16:45「ウエット洗浄とマイクロコンタミネーションの概要」
元カイジョー 藤江 明雄


2006年4月14日(金)  開催場所:ニュー新橋ビル 地下2階会議室

13:00-14:00
Session1: IDEMA技術委員会報告 大津(日立GST)/鈴木(IMES)/山口(TREK)
-DISCON Asia Pasific報告
-Global Standardについて
-本年度の活動カレンダーについて
-ISW2006
-RCJ ESDシンポジウム
-静電気学会
-EMCフォーラム(ミマツコーポレーション)
-ESD/EOSシンポジウムUSA
-DISCON USA
-SEMICON

14:00-15:00

Session2:ワークショップ
『ESD感度の高いデバイスのためのESD/EMIコントロール技術』

【1】新制電材料
Dr.Kong-Chin Chew, Static Control Product Development manager Noveon
「Noveon Static Control : ESD Solutions for Hard Disk Industry」

【2】新規ESD電位センサー
オムロン株式会社 インダストリアルオートメーションビジネスカンパニー
アプリセンサ事業部 技術部 第1グループ 大槻 秀智
「オンライン計測に適した表面電位センサと薄型高機能ファン型イオナイザ」

15:15-16:15
【3】オプティカルイオナイザー
浜松ホトニクス株式会社 第40部門 鈴木智之
「フォトイオナイザとは?」

【4】電磁環境測定の有効性
竹内  (東洋メディック)


2006年2月3日(金)13:00-  開催場所:14森ビル 弁護士ビル

13:00-14:00
■ IDEMA技術委員会報告
-Global Standardについて
-本年度の活動について
(ISW2006/RCJ ESDシンポジウム/静電気学会/月刊EMC/SEMICON etc)
大津(日立GST)/鈴木(IMES)/山口(TREK)

14:00-15:20
■ワークショップ 『HDD業界とESDコントロール技術動向2006』

【1】ハードディスク生誕50年の歩みとナノデバイスのESD/EMIについて
IDEMA JAPAN    大津孝佳
【2】HDD業界動向 2006
株式会社富士キメラ総研 第一研究開発部門 C&E研究室 塩原 一平

15:20-16:40
【3】ESD対策製品動向2006
シシド静電気株式会社 専務取締役 工場長:永田秀海

【4】静電気対策における計測管理の動向2006
トレックジャパン    山口晋一


2005年10月28日(金)  開催場所:阪急交通社(日比谷通り)地階

プログラム:

13:00-14:30
■IDEMA及び業界動向
1)IDEMA USA 2005 Global Standard Committee 報告  大津孝佳(日立GST)
2)応用磁気学会の報告     田上 勝通 (TDK)
3)ESD/EOSシンポジウムUSA2005報告     大津孝佳(日立GST)

14:30-15:00
■技術ロードマップの討議       小林和雄 (富士通)

15:15-17:00
■ワークショップ (2件に変更 10/21)
1)CNTを用いた複合樹脂材料  高瀬博文 (タキロン)
2)電子デバイスとEMI測定               杉浦常夫(東京電子交易)
■IDEMA JAPANコラボレーション活動
1)RCJ ESD/EOSシンポジウム(11/10-11)について 塩野登(日本電子部品信頼性センタ)
-ナノデバイスのESD/EMI
-コンシューマエレクトロニクスのESD/EMI 
2)第26回リオン微粒子計測セミナー(11/15)について 蛭田陽一(リオン(株))
HDD製造におけるコンタミネーションコントロールセミナー


2005年8月26日(金)13:00-  開催場所:阪急交通社地階 第1・第2会議室

13:00-13:30
■ESD分科会報告とESDカレンダー  大津孝佳(日立GST)
2005.9.5-6 静電気学会 全国大会
2005.9.11-16 ESD/EOS symposium
2005.9.20-22 DISKCON USA IDEMA
2005.10.21 クオータリーセミナー
2005.11.10-11 RCJ ESDシンポジウム http://www.rcj.or.jp/
2005.12.7-9 SEMICON Japan
2005.12.16 IDEMA 合同分科会

13:30-14:00
■ESDアプリケーション提案の現状と今後の進め方   全員で議論
-ESDコントロールアプリケーション提案レビュー
-ESD対策/コンタミネーションコントロールモデルラインの検討提案

14:00-14:30
■特別講演『Wafer Charging Monitor』
Wes Lukaszek, Ph.D. President WAFER CHARGING MONITOR INC.

14:50-16:20
■ESD ワークショップ 『ESDコントロール技術最新動向』
1.新規帯電防止剤「サンコノール」の概説と用途例の紹介
谷口 満 (三菱商事)   (30分)
2.新開発、低発塵タイプイオナイザーブロータイプ
大岩裕樹 (コガネイ)  (30分)
3.日本初、マイクロフォーカスX線透過検査装置&イオナイザー
釜田敏光 (ポニー工業) (30分)
4.新事業部発足、電磁環境測定の有効性
浜手  (東洋メディック) (30分)


2005年6月24日(金)13:00-  開催場所:阪急交通社 地階 第1・第2会議室

13:00-13:30
■ESD分科会報告とESDカレンダー   大津孝佳(日立GST)
-EMCフォーラム    ----7月6-8日開催-------  
http://www.it-book.co.jp/EMC/11-forum.htm
-RCJ ESDシンポジウム    ----発表論文受付中------
http://www.rcj.or.jp/
-静電気学会 全国大会    ----発表論文受付中------ 

13:30-14:00
■ISW報告 大津・鈴木・山口

  -Standard Committee Chair Persons meeting 報告

14:00-14:30
■ESDアプリケーション提案の現状と今後の進め方   全員で議論

  -ESDコントロールアプリケーション提案レビュー 
-ESD対策/コンタミネーションコントロールモデルラインの検討提案

14:50-16:20
■ESD ワークショップ 『信頼性評価技術』

1.TMRヘッドの信頼性評価     高橋法男(TDK株式会社)
2.HDDの熱的信頼性      溝尾嘉章(パナソニック四国エレクトロニクス株式会社)
3.電子部品の信頼性について    塩野登(日本電子部品信頼性センタ)

2005年3月25日(金)  開催場所:新橋 弁護士ビル(14森ビル)

13:00-13:30
■ESD分科会報告とESDカレンダー  大津孝佳(鞄立GST)

13:30-14:00
■ESDアプリケーション提案の現状と今後の進め方 全員で議論

14:00-14:45
■特別講演
1.水の帯電と洗浄          藤江明雄様(潟Jイジョー)

15:00-17:00
■ESD^3 キックオフワークシュップ

1.HDDパーツ付着粒子の検査技術 池田卓司(ソナック咳MS事業部)
2.クリーンルームテクノロジー    平田順太(日立プラント建設梶j   
3.ウエハ静電気モニタ        高橋文彦(潟Aイメック)    
4.磁性流体のアプリケーション   安田一弘(潟tェローテック)


2005年1月7日(金)  開催場所:弁護士ビル 地下第2会議室

------------開会挨拶 (13:00-13:05)------------

■Session1 IDEMA & ESDコントロール分科会2005

1-1 広報「Global IDEMA について」(13:05-13:20) 樋口龍治
・IDEMAがGlobal化に対応し、新たしく生まれ変わります。IDEMA広報より概要をご説明いたします。

1-2 「2005ESD-C活動計画 ---ESD^3---」(13:20-13:40) 大津孝佳
・ナノテクノロジーのESDコントロールをはじめ、身の回りに使われるようになったHDDについての新しい技術課題とその取り組みについての計画です。

■Session2 HDDと静電気業界動向2005

2-1 「HDD業界動向2005」(13:40-14:20)
富士キメラ総研:第一研究開発部門 C&E研究室 塩原一平
・2005年度のHDD業界動向について。

2-2 「ESD対策技術動向2005」(14:20-14:50)
シシド静電気 :取締役副会長 開発センター長(工学博士)和泉健吉
・2005年度のESD業界動向について。

    ------ 休憩 (14:50-15:00)--------------

■Session3 ESDコントロール技術トピックス

3-1 「各種帯電防止床材と使用方法」(15:00-15:30)
(財) 東京都中小企業振興公社: 殿谷保雄
・GMRヘッド等のESD感度の高いデバイスを製造するための床材についての検討結果の報告です。

3-2 「帯電した人体からの放電電流波形」(15:30-16:00)
東京理科大学:澤井丈徳
・帯電した人体放電についてサイエンスの切り口からの検討結果の報告です。

3-3 「セミコン2004レポート」 (16:00-16:30)
トレックジャパン:営業技術部 部長 山口晋一
・セミコン2004での話題についてのレポートです。

■Session4 ESDコントロールコラボレーション(E-PCOT)

4-1 「RCJより 」(16:30-16:45)
(財)日本電子部品信頼性センター 調査研究部長(工学博士)塩野登
・RCJ:日本電子部品信頼センタの活動について

4-2 「静電気学会より」 (16:45-17:00)
独立行政法人 産業安全研究所:大澤敦
・静電気学会の活動について


2004年10月15日(金)  開催場所:西新橋 弁護士ビル

■13:00-13:15 ESDコントロール分科会より  大津
1. ESDコントロール分科会の活動について
2. RCJ ESDシンポジウム2004(11月11-12日)について
3. 静電気学会、米国ESDシンポジウムについて

■13:15-13:30 ヘッド・ディスク分科会より 小林
1. ヘッド・ディスク分科会の活動について
2. 応用磁気学会でのトピックスについて

■13:30-16:30 拡大ワークショップ  『磁気ヘッド技術とESD対策技術』
「単磁極ヘッドが隣接トラックに及ぼす影響」   富士通      井原 宣孝
「HDD用サスペンション配線の伝送特性」     日本発条      荒井 肇 
「パルスAC方式の有効性とI.C.C.制御について」キーエンス       南部 竜介
「真空チャンバー内でのESD」         ファブソリューション  鈴木 功一
「テープドライブでのESD」          SONY      早田 裕
「電子ジャーナルについて」           電子ジャーナル     成沢 誠
書籍紹介「除電装置と除電技術」       シーエムシー出版    大倉 寛之

■16:30-17:00 テーブルラウンドディスカッション
『ヘッド・ディスクとESDコントロール』


2004年08月06日(金)13:00-  開催場所:弁護士ビル(14森ビル)地下1階 第2会議室

■ 1:00-1:30 ESDコントロール分科会開催

1. RCJ ESDシンポジウム開催について
2. 静電気学会全国大会開催について
3. 「ヘッドディスクインタフェースの技術動向─ナノトライボロジーの最先端─」協賛について
4. EMIの定義についてIDEMAでの進め方について

■13:30-14:00 アプリケーション提案議論

Discussion
1.「クリアキャリー」 三菱樹脂(株)    三荒直也
2.「ドライフォグによる湿度コントロール」 (株)いけうち   米澤正晴
3.「導電層を切らないデザイン/I-method法」 日本IBMロジスティック社  伊神秀生

進捗状況報告
1.「チャージドテープモデル」        SONY(株)    早田裕
2.「微小面積イオンバランス測定技術」    トレックジャパン(株)   山口晋一
3.「高周波AC除電技術」           シシド静電気(株)     永田秀海
4.「静電気帯電防止材料と表面抵抗測定方法」 呉羽化学工業(株)    西畑直光
5.「微小領域の抵抗測定」           トレックジャパン(株)    山口晋一
6.「GMRヘッド用プリアンプ」        (株)日立製作所      吉澤弘泰
7.「アルファーイオナイザー応用」       (株)KLAテンコール     松川孝
8/9.「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器   名取章二
10.「EMI測定技術」            インパルス物理研究所  本田昌實

■14:00-16:15 ワークショップ『TMRヘッド/垂直媒体の製造設備と電磁界解析』

「TMRヘッド/垂直媒体対応スパッタ装置」
(株)ANELVA   鈴木勝
「TMRヘッド/垂直媒体対応ターゲット」
(株)高純度科学 柴山卓真
「ハードディスク装置の伝送路シミュレーション技術」
ANSOFT     太田明
「月刊トライボロジーについて」 新樹社  櫻井歩

■16:15-17:00 ラウンドテーブルディスカッション

『ESDとコンタミの共存空間制御』


2004年5月28日(金)13:00-  開催場所:弁護士ビル(14森ビル)地下1階 第2会議室

■1:00-1:30 ESDコントロール分科会開催
1. RCJ ESDシンポジウム開催について
2. 静電気学会全国大会開催について
3. コンタミネーションコントロール分科会との合同開催について

■13:30-14:30 アプリケーション提案議論
Discussion
1.「クリアキャリー」 三菱樹脂(株)    三荒直也様
2.「ドライフォグによる湿度コントロール」 (株)いけうち    米澤正晴
3.「導電層を切らないデザイン/I-method法」 日本IBMロジスティック社  伊神秀生
進捗状況報告
1.「チャージドテープモデル」        SONY(株)       早田裕
2.「微小面積イオンバランス測定技術」    トレックジャパン(株)   山口晋一
3.「高周波AC除電技術」           シシド静電気(株)     永田秀海
4.「静電気帯電防止材料と表面抵抗測定方法」 呉羽化学工業(株)     西畑直光
5.「微小領域の抵抗測定」           トレックジャパン(株)    山口晋一
6.「GMRヘッド用プリアンプ」        (株)日立製作所      吉澤弘泰
7.「アルファーイオナイザー応用」       (株)KLAテンコール     松川孝様
8/9.「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器   名取章二
10.「EMI測定技術」            インパルス物理研究所  本田昌實

■14:30-16:15 ワークショップ『ナノデバイスのESD/EMI現象と対策技術』
「CRにおけるケミカル汚染防止対策技術」
高砂熱学工業(株)   稲葉仁
「ハードディスク対応クラス10以下のハイクリーンコンベア」
(株)ワイエイシイ   米山 憲一
「ハードディスク製造工程における清浄度管理-コンタミネーションとしての静電気-」
福井工業大学     浅田先生(元IBM)

■16:15-17:00 ラウンドテーブルディスカッション
『静電気とコンタミネーション』


2004年3月26日(金)13:00-17:00  開催場所:ニュー新ホール(ニュー新橋ビル 地下2階会議室)

■13:00-13:30 ESDコントロール分科会開催

1.IDEMA『Standard Committee』2004.2.25 報告
2.RCJ ESDシンポジウム開催について
3.静電気学会全国大会開催について

■13:30-15:00 アプリケーション提案議論 (10分/件)

【New】
1.「クリアキャリー」 三菱樹脂(株)    三荒直也
2.「ドライフォグによる湿度コントロール」 (株)いけうち     米澤正晴
3.「導電層を切らないデザイン/I-method法」 日本IBMロジスティック社  伊神秀生

【Discuss】
1.「チャージドテープモデル」        SONY(株)       早田裕
2.「微小面積イオンバランス測定技術」    トレックジャパン(株)   山口晋一
3.「高周波AC除電技術」           シシド静電気(株)     永田秀海
4.「静電気帯電防止材料と表面抵抗測定方法」 呉羽化学工業(株)     西畑直光
5.「微小領域の抵抗測定」           トレックジャパン(株)    山口晋一
6.「GMRヘッド用プリアンプ」        (株)日立製作所      吉澤弘泰
7.「アルファーイオナイザー応用」       (株)KLAテンコール     松川孝
8/9.「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器   名取章二
10.「EMI測定技術」            インパルス物理研究所  本田昌實

■15:15-16:15 ワークショップ『ナノデバイスのESD/EMI現象と対策技術』

「月刊クリーンテクノロジーについて」     月刊クリーンテクノロジー 増川信夫
「電子デバイスのESD評価」         阪和電子工業(株)    吉野彰
「ハードディスクドライブのEMIの現状と課題」(株)日立製作所      須賀卓

■16:15-17:00 テーブルラウンドディスカッション

『ナノデバイスとEMI現象』


2004年1月23日(金)09:30-12:00  開催場所:四ツ谷「主婦会館」8階 パンジー

■9:30-9:40 ESDコントロール分科会開催

1.『ISW2004』2004.6.7-6.10
2. ESD関連活動カレンダーについて

■9:40-11:40 ワークショップ『ナノデバイスのESD現象と対策技術』

「月刊EMCに掲載されたESD関連記事について」  ミマツコーポレーション     倉持佳明
「高分子系導電シートのHDD部品トレイの導電層を切断しない設計手法を用いた成形トレイ」
日本アイ・ビー・エム ロジスティクス株式会社    伊神秀生
「コントロールグリッド付き軟X線イオナイザのイオンバランス制御」
職業能力開発総合大学校     岡野一雄
「アルファーイオナイザーの現状と課題」    イオンシステムズ        柴崎 猛

■11:40-12:00 アプリケーション提案議論

 現在審議中の案件についての進捗および議論
「チャージドテープモデル」     SONY(株)      早田裕
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株)  山口晋一
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)    永田秀海
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)    西畑直光
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所     吉澤弘泰
「アルファーイオナイザー応用」   (株)KLAテンコール    松川孝
「表面抵抗測定法」         呉羽化学工業(株)    西畑直光
「微小領域の抵抗測定」        トレックジャパン(株)  山口晋一
「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器  名取章二
「EMI測定技術」           インパルス物理研究所  本田昌實


2003年10月17日(金)  開催場所:四ツ谷「主婦会館」8階 パンジー

■9:30-10:00 ESDコントロール分科会開催

1.『IDEMA クオータリーセミナー』(10/17PM)御案内
2.『RCJ ESDシンポジウム』(11/6-7)協賛について
3.『技術委員会 合同分科会開催について』(11/28)開催について

■10:00-11:40 ワークショップ『ナノデバイスのESD現象と対策技術』

「背面が接地された薄い絶縁物の表面電位の解析解の帯電防止性能評価への応用」
産業安全研究所    大澤 敦

「ドライフォグによるESDコントロール」(株)霧のいけうち 米澤正晴

「ESD対応セラミック材料」(株)京セラ 石井和夫

「RCJ主催ESDシンポジウム(11/6-7)の概要」日本電子部品信頼性センタ 塩野 登

■11:40-12:00 アプリケーション提案議論

 現在審議中の案件についての進捗および議論
「チャージドテープモデル」     SONY(株)      早田裕
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株)  山口晋一
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)    永田秀海
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)    西畑直光
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所     吉澤弘泰
「アルファーイオナイザー応用」   (株)KLAテンコール    松川孝
「表面抵抗測定法」         呉羽化学工業(株)    西畑直光
「微小領域の抵抗測定」        トレックジャパン(株)  山口晋一
「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器  名取章二
「EMI測定技術」           インパルス物理研究所  本田昌實


2003年8月1日(金)13:00-17:00  開催場所:航空会館

■13:00-13:30 ESDコントロール分科会開催

1.『RCJ ESDシンポジウム』協賛について
2.『第9回2003 EMCフォーラム』速報

■13:30-14:00 アプリケーション提案議論

 現在審議中の案件についての進捗および議論
「チャージドテープモデル」     SONY(株)      早田裕
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株)  山口晋一
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)    永田秀海
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)    西畑直光
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所     吉澤弘泰
「アルファーイオナイザー応用」   (株)KLAテンコール    松川孝
「表面抵抗測定法」         呉羽化学工業(株)    西畑直光
「微小領域の抵抗測定」        トレックジャパン(株)  山口晋一
「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器  名取章二
「EMI測定技術」           インパルス物理研究所  本田昌實

■14:00-16:30 ワークショップ『ナノデバイスのESD現象と対策技術』

「製造現場からみたESD計測と対策」     (株)アイメス    田本靖幸
「TFT液晶パネル製造における静電気障害と静電気制御」 アルプス電気(株) 仲野陽
「リード用強磁性トンネル接合の電気特性」  (株)富士通研究所  小林和雄
「制電シートの提案」        三菱樹脂(株)   三荒直也
「HDD分野における粒子計測の現状」     リオン(株)    一条和夫

■16:30-17:00 今後の活動について

・他団体とのコラボレーションについて
・「ESD計測技術WG」 「アルファーイオナイザーWG」


2003年6月6日(金)13:00-17:00  開催場所:航空会館

【1】 コンタクト磁気記録の先端である磁気デープ装置にけるESDメカニズム
【2】 <B>磁気ヘッドにおけるESD現象とEMIの脅威
【3】 局所除電タイプイオナイザーの使用事例報告
【4】 EMI関連団体とのCollaboration

■13:00-13:10 ESDコントロール分科会開催
2003年度活動計画

■13:10-14:10 アプリケーション提案議論
現在審議中の案件についての進捗および議論
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株)  山口晋一
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)    永田秀海
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)    西畑直光
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所     吉澤弘泰
「アルファーイオナイザー応用」   (株)KLAテンコール    松川孝
「表面抵抗測定法」         呉羽化学工業(株)    西畑直光
「微小領域の抵抗測定」        トレックジャパン(株)  山口晋一
「GMRヘッドのESD評価」        日立コンピュータ機器  名取章二
「EMI測定技術」           インパルス物理研究所  本田昌實

■14:10-16:30 ワークショップ『ナノデバイスのESD現象と対策技術』
「テープドライブ用MRヘッドにおけるESD現象とその対策」
--チャージドテープモデルの提案--- SONY(株)       早田裕
「高周波型局所除電タイプイオナイザーの使用事例」 (株)コガネイ  大岩裕樹
「磁気ヘッドにおけるESD現象とEMIの脅威」 インパルス物理研究所  本田昌實
「GMRヘッドのCDMでのESD評価」     ジャスタム株式会社  堀江久男

■ 16:30-17:00 ワーキンググループ活動について
「アルファーイオナイザーWG」    (株)KLAテンコール   松川孝
「ESD計測技術WG」        トレックジャパン(株) 山口晋一


2003年3月28日(金) 13:00-17:00  開催場所:ニュー新橋ビル

【1】 ハードディスクドライブの製造工程におけるGMRヘッドのESD現象
【2】 ESD規格の各世界の状況
【3】 ナノデバイスESDコントロールのドラフト提案と審議
【4】 ワーキンググループ活動

■13:00-13:10 ESDコントロール分科会開催

 開催挨拶/会員紹介/技術委員会報告

■13:10-14:10 投票結果報告

前回審議下記10件の投票結果と議論

「ESD対策のカテゴリー」       日立製作所      大津孝佳
「微小面積・微小電位測定技術」   トレックジャパン(株) 山口晋一
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株) 山口晋一
「微小帯電量測定技術」       春日電機(株)     鈴木輝夫
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)   永田秀海
「電荷輸送型局所除電」       (株)コガネイ     大岩裕樹
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)   西畑直光
「GMR/TMR磁気ヘッドのESD評価」   東京電子交易(株)   磯福佐東至
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所    吉澤弘泰
「アルファーイオナイザー応用」   (株)KLAテンコール   松川孝

■14:10-15:10 アプリケーション提案審議

 「GMRヘッドのESD評価」      日立コンピュータ機器 名取章二
「EMI測定技術」          インパルス物理研究所  本田昌實
「微小領域の抵抗測定」       トレックジャパン(株)  山口晋一

■15:10-16:40 ワークショップ『HDDの製造工程におけるGMRヘッドのESD現象』

「GMRヘッドにおけるESD起因のバルクハウゼンノイズとその磁気的な破壊過程の解析」
(株)日立製作所 濱口雄彦

「GMRヘッドを用いたHDD製造プロセスにおけるESD現象」 松下寿(株) 溝尾嘉章

「ESD規格の各世界の状況」    電子部品信頼性センタ 塩野登

■16:40-17:00 ワーキンググループの新設について

「アルファーイオナイザーWG」    (株)KLAテンコール 松川孝


2003年1月31日(金)13:00-17:00  開催場所:森永プラザビル 23階会議室

■13:00-13:30 ESDコントロール分科会開催
開催挨拶/会員紹介/技術委員会報告

■13:30-15:30 提案案件の審議
『ナノデバイスのESDコントロールアプリケーション(ドラフト提案)』
「ESD対策のカテゴリー」       日立製作所      大津孝佳
「微小面積・微小電位測定技術」   トレックジャパン(株) 山口晋一
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株) 山口晋一
「微小帯電量測定技術」       春日電機(株)     鈴木輝夫
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)   永田秀海
「電荷輸送型局所除電」       (株)コガネイ     大岩裕樹
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)   西畑直光
「GMR/TMR磁気ヘッドのESD評価」   東京電子交易(株)   磯福佐東至
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所    吉澤弘泰
「アルファーイオナイザー応用」   (株)KLAテンコール   松川孝

■15:30-16:30 新アプリケーション提案プレゼンテーション
「GMRヘッドのESD評価」      日立コンピュータ機器 名取章二
「EMI測定技術」          インパルス物理研究所  本田昌實
「微小領域の抵抗測定」       トレックジャパン(株)  山口晋一

■16:30-17:30テーブルラウンドディスカッション
『ESDコントロール分科会活動に期待すること』


2002年11月22日 13:00-17:00  開催場所:日立金属 高輪和彊館

合同分科会・ESDコントロール分科会キックオフミーティング

担当分科会: ヘッド分科会 ESDコントロール分科会

■ワークショップ

磁気ヘッドをはじめHDD各分野でのナノ領域における解析技術についてワークショップを行います。今後のヘッドテクノロジーでの必須技術である膜間界面制御について高橋研教授(東北大学)に、磁気ヘッドにおける高周波電流計測に関し池亀弘様((株)日立製作所)、HDD分野での極微小粒子計測について一条和夫様(リオン(株))、にご講演頂きます。

■ESDコントロール分科会キックオフ

GMRヘッド等のナノデバイスのESDコントロール技術について、デバイス設計、関連部品設計、製造装置、デバイス評価技術、組立プロセス(材料、除電等含む)、静電気測定等のトータルソリューションの観点から、分科会メンバーよりアプリケーション提案(ドラフト提案)を頂きます。

13:00- 技術委員長 挨拶 松崎幹男(TDK)

13:05- ワークショップ

「BCC固溶体下地層による積層膜の面内結晶粒径の増大」東北大学 高橋研教授(40分)
「磁気ヘッドの高周波電流計測」       (株)日立製作所  池亀弘様(20分)
「HDD分野における粒子計測の現状」        リオン(株) 一条和夫様(20分)

14:20- ESDコントロール分科会キックオフミーティング

『ナノデバイスのESDコントロールアプリケーション(ドラフト提案)』
「微小面積・微小電位測定技術」   トレックジャパン(株) 山口晋一
「微小面積イオンバランス測定技術」 トレックジャパン(株) 山口晋一
「微小帯電量測定技術」       春日電機(株)     鈴木輝夫
「高周波AC除電技術」        シシド静電気(株)   永田秀海
「電荷輸送型局所除電」       (株)コガネイ     大岩裕樹
「静電気帯電防止材料」       呉羽化学工業(株)   西畑直光
「GMR/TMR磁気ヘッドのESD評価」   東京電子交易(株)   磯福佐東至
「GMRヘッド用プリアンプ」     (株)日立製作所    吉澤弘泰

17:00- 技術委員会報告

ディスク、ヘッド、テスト、コンシューマHDD、コンタミネーションコントロール分科会(各5分-10分程度)

ページTopへ

IDEMA JAPAN (日本HDD協会) 
〒105-0003 東京都港区西新橋2-11-9 ワタルビル6階  地図
E-mail : info@idema.gr.jp
(c) 2009 IDEMA JAPAN All Rights Reserved